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            當前位置:首頁  >  產品中心  >  晶圓缺陷檢測  >  LAZIN  >  LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

            GlassWafe缺陷檢查裝置

            簡要描述:LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

            • 產品型號:LODAS™ – BI12
            • 廠商性質:代理商
            • 產品資料:
            • 更新時間:2025-09-04
            • 訪  問  量: 2754

            詳細介紹

            列真株式會社自創業以來,秉承“挑戰"、“創造"、“誠實"的經營理念,為顧客提供可靠、可信的產品和服務。運用激光掃描技術,專門制造、銷售半導體材料表面及內部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。


            特征:

            • Glass Wafer的出貨檢查、過程評價

            • 可同時檢查表面,背面和內部的缺陷

            • 用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷

            • 檢查對象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer

            • 檢查項目:表面和背面的顆粒、內部缺陷

            列真公司檢查裝置的維護、修理

            • 定期支持裝置安裝完成后的性能維持。

            • 24小時電話對應,全年無休的安心支持。

            • 認真對待客戶新的要求。

            • 召開技術研討會和充實各種手冊,讓顧客能夠自行維護和更換零件。

            • 提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務。


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